EN 60749-36-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第36部分:稳态加速

作者:标准资料网 时间:2024-05-17 08:40:36  浏览:9923   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part36:Acceleration,steadystate(IEC60749-36:2003);GermanversionEN60749-36:2003
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第36部分:稳态加速
【标准号】:EN60749-36-2003
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2003-12
【实施或试行日期】:2003-12-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:加速度试验;元部件;加速;气候;电学测量;电子设备及元件;机械试验;加速度;电子工程;电气工程;试验;破坏试验;半导体器件;气候试验;集成电路;环境试验;半导体
【英文主题词】:Accelerate;Acceleratedtesting;Acceleration;Climate;Climatictests;Components;Destructivetesting;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:7P.;A4
【正文语种】:英语