NF R13-714-1-2002 道路车辆.诊断系统.关键词协议2000.第1部分:物理层
作者:标准资料网 时间:2024-05-21 21:52:35 浏览:8260
来源:标准资料网
【英文标准名称】:Roadvehicles-Diagnosticsystems-KeywordProtocol2000-Part1:physicallayer.
【原文标准名称】:道路车辆.诊断系统.关键词协议2000.第1部分:物理层
【标准号】:NFR13-714-1-2002
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2002-09-01
【实施或试行日期】:2002-09-05
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:物理层;定义;数字工程;电子设备;监控系统;规范(验收);摩托车;诊断系统;电子装置;防滑系统;信息交换;道路车辆
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:R17
【国际标准分类号】:43_180
【页数】:14P;A4
【正文语种】:其他
【英文标准名称】:Connectorsforelectronicequipment-Testsandmeasurements-Part15-4:connectortests(mechanical)-Test15d:contactinsertion,releaseandextractionforce.
【原文标准名称】:电子设备用连接器.试验和测量.第15-4部分:连接器试验(机械的).试验15d:触点插入力、断开力和拔出力
【标准号】:NFC93-400-15-4-2008
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2008-12-01
【实施或试行日期】:2008-12-05
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:元件;触点;接触插入物;触点稳固设备;电连接;电连接器;电插头;电气元件;电气工程;机电的;机电学;电子工程;电子设备;电子设备及元件;电子仪器;外壳;轴承箱;插入力;测量;测量技术;机械试验;力学;插头;断开力;应力;试验
【英文主题词】:Components;Contact;Contactinserts;Contactretentionsystems;Electricconnection;Electriccontacts;Electricplugs;Electricalcomponents;Electricalengineering;Electromechanical;Electromechanics;Electronicengineering;Electronicequipment;Electronicequipmentandcomponents;Electronicinstruments;Enclosures;Housings;Insertionforce;Measurement;Measuringtechniques;Mechanicaltesting;Mechanics;Plugs;Releaseforce;Stress;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L23
【国际标准分类号】:31_220_10
【页数】:9P;A4
【正文语种】:其他
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Resistanceofplastic-encapsulatedSMDstothecombinedeffectofmoistureandsolderingheat
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.塑料包封的SMDs的抗湿及钎焊热度综合影响
【标准号】:BSEN60749-20-2003
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:2003-07-07
【实施或试行日期】:2003-07-07
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:机械试验;电子设备及元件;电气工程;电子工程;抗湿;耐钎焊温度;试验;半导体器件;气候试验;表面安装装置;表面安装设备;集成电路;半导体;热稳定性;环境试验;元部件
【英文主题词】:Climatictests;Components;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Moistureresistance;Plastics;Semiconductordevices;Semiconductors;SMD;Solderingtemperatureresistance;Surfacemounting;Surfacemountingdevices;Testing;Thermalstability
【摘要】:ThispartofIEC60749appliestosemiconductordevices(discretedevicesandintegratedcircuits).Thistestmethodprovidesameansofassessingtheresistancetosolderingheatofplastic-encapsulatedsurfacemountdevices(SMDs).Thistestisdestructive.NOTEThistestisidenticaltothetestmethodcontainedin2.3ofchapter2ofIEC60749(1996),amendment2,apartfromtheadditionofthisclauseandclause2andthesubsequentrenumbering.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:28P;A4
【正文语种】:英语
