DIN 41881-2-1978 半导体器件.第2部分:陶瓷绝缘式金属外壳.要求和试验
作者:标准资料网 时间:2024-05-22 12:18:55 浏览:9707
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【英文标准名称】:Semiconductordevices;metalcaseswithceramicinsulation,requirementsandtests
【原文标准名称】:半导体器件.第2部分:陶瓷绝缘式金属外壳.要求和试验
【标准号】:DIN41881-2-1978
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:1978-06
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:要求;尺寸;试验;元部件;腐蚀;陶瓷;测量;电气工程;外观检查(试验);规范(审批);腐蚀试验;外壳;行李箱;试验设备;出院后医护;公差;半导体器件;半导体;金属;验收检验
【英文主题词】:
【摘要】:Semiconductordevices;metalcaseswithceramicinsulation;requirementsandtests
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_00
【页数】:4P;A4
【正文语种】:德语
【原文标准名称】:半导体器件.第2部分:陶瓷绝缘式金属外壳.要求和试验
【标准号】:DIN41881-2-1978
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:1978-06
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:要求;尺寸;试验;元部件;腐蚀;陶瓷;测量;电气工程;外观检查(试验);规范(审批);腐蚀试验;外壳;行李箱;试验设备;出院后医护;公差;半导体器件;半导体;金属;验收检验
【英文主题词】:
【摘要】:Semiconductordevices;metalcaseswithceramicinsulation;requirementsandtests
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_00
【页数】:4P;A4
【正文语种】:德语
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